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IC静电放电测试之I/O Pin

日期:2024-04-18 15:28
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摘要:
IC静电放电测试之I/O Pin
    集成电路芯片的静电放电测试,详细的可以分为对I/O Pin静电测试、Pin-to-Pin静电测试、VDD-to-VSS静电测试和Analog Pin静电测试,本文着重讲下I/O Pin静电测试:
  靜電的累積可能是正的或負的電荷,因此靜電放電測試對同一IC腳而言是具有正與負兩種極性。對每一I/O (Input or Output) Pin而言,HBM與MM靜電放電對IC的放電,有下列四種ESD測試組合,其等效電路示意圖如圖3.1-1所示。

1. PS-mode:VSS腳接地,正的ESD電壓出現在該I/O腳對VSS腳放電,此時VDD與其他腳皆浮接;
2. NS-mode:VSS腳接地,負的ESD電壓出現在該I/O腳對VSS腳放電,此時VDD與其他腳皆浮接;
3. PD-mode:VDD腳接地,正的ESD電壓出現在該I/O腳對VDD腳放電,此時VSS與其他腳皆浮接;
4. ND-mode:VDD腳接地,負的ESD電壓出現在該I/O腳對VDD腳放電,此時VDD與其他腳浮接。

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