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东莞市众升仪器有限公司
 

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产品详情
  • 产品名称:数字式方块电阻测试仪,电阻率测试仪,四探针薄膜电阻测试仪M-3

  • 产品型号:M-3
  • 产品厂商:其它品牌
  • 产品文档:
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简单介绍:
M-3型手持式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。
详情介绍:
数字式方块电阻测试仪,电阻率测试仪,四探针薄膜电阻测试仪M-3

特点:
仪器成套组成:由M-3主机、选配的四探针探头等二部分组成,也可加配测试台。
仪器所有参数设定、功能转换全部采用轻触按键输入;具有零位、满度自校功能;手动/自动转换量程可选;测试结果由数字表头直接显示。本测试仪采用可充电电池供电,适合手持式变动场合操作使用!
探头选配:根据不同材料特性需要,探头可有多款选配。有高耐磨碳化钨探针探头,以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻;也有球形镀金铜合金探针探头,可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜(ITO膜)或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具,还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。配专用探头,也可测试电池极片等箔上涂层电阻率方阻。
基本技术参数
 

1. 测量范围、分辨率

    阻:     0.010 50.00kΩ,     分辨率0.001 10 Ω

电 阻 率:     0.010 20.00kΩ-cm,分辨率0.001 10 Ω-cm

方块电阻:     0.050100.00kΩ/   分辨率0.001 10 Ω/

2. 可测材料尺寸

手持方式不限材料尺寸,但加配测试台则由选配测试台决定如下:

    径:SZT-A圆测试台直接测试方式 Φ15130mm

SZT-C方测试台直接测试方式180mm×180mm

()度:测试台直接测试方式 H100mm

测量方位: 轴向、径向均可.

3. 量程划分及误差等级

量程(Ω-cm/□)

2.000

20.00

200.0

2.000k

20.00k

电阻测试范围

0.0102.200

2.00022.00

20.00220.0

0.2002.200k

2.00050.00k

电阻率/方阻

0.010/0.0502.200

2.00022.00

20.00220.0

0.2002.200k

2.00020.00k/100.0k

基本误差

±1%FSB±2LSB

±2%FSB±2LSB

4) 适配器工作电源:220V±10, f=50Hz±4,PW5W,或电池供电

5) 外形尺寸:W×H×L=10cm×3.6cm×21cm

   重:≤0.3kg

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