主营产品:静电放电发生器静电放电枪雷击浪涌发生器群脉冲发生器数显维氏硬度计标准光源箱
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数字式方块电阻测试仪,电阻率测试仪,四探针薄膜电阻测试仪M-3

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产品名称: 数字式方块电阻测试仪,电阻率测试仪,四探针薄膜电阻测试仪M-3
产品型号: M-3
产品厂商: 其它品牌
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简单介绍

M-3型手持式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。

数字式方块电阻测试仪,电阻率测试仪,四探针薄膜电阻测试仪M-3的详细介绍

数字式方块电阻测试仪,电阻率测试仪,四探针薄膜电阻测试仪M-3

特点:
仪器成套组成:由M-3主机、选配的四探针探头等二部分组成,也可加配测试台。
仪器所有参数设定、功能转换全部采用轻触按键输入;具有零位、满度自校功能;手动/自动转换量程可选;测试结果由数字表头直接显示。本测试仪采用可充电电池供电,适合手持式变动场合操作使用!
探头选配:根据不同材料特性需要,探头可有多款选配。有高耐磨碳化钨探针探头,以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻;也有球形镀金铜合金探针探头,可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜(ITO膜)或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具,还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。配专用探头,也可测试电池极片等箔上涂层电阻率方阻。
基本技术参数
 

1. 测量范围、分辨率

    阻:     0.010 50.00kΩ,     分辨率0.001 10 Ω

电 阻 率:     0.010 20.00kΩ-cm,分辨率0.001 10 Ω-cm

方块电阻:     0.050100.00kΩ/   分辨率0.001 10 Ω/

2. 可测材料尺寸

手持方式不限材料尺寸,但加配测试台则由选配测试台决定如下:

    径:SZT-A圆测试台直接测试方式 Φ15130mm

SZT-C方测试台直接测试方式180mm×180mm

()度:测试台直接测试方式 H100mm

测量方位: 轴向、径向均可.

3. 量程划分及误差等级

量程(Ω-cm/□)

2.000

20.00

200.0

2.000k

20.00k

电阻测试范围

0.0102.200

2.00022.00

20.00220.0

0.2002.200k

2.00050.00k

电阻率/方阻

0.010/0.0502.200

2.00022.00

20.00220.0

0.2002.200k

2.00020.00k/100.0k

基本误差

±1%FSB±2LSB

±2%FSB±2LSB

4) 适配器工作电源:220V±10, f=50Hz±4,PW5W,或电池供电

5) 外形尺寸:W×H×L=10cm×3.6cm×21cm

   重:≤0.3kg

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